正文

超臨界 CO?（Supercritical CO?，SCO?）高壓工況流體滲透性強，易萃取密封防護層組分，密封端面 \\ 平面度（Flatness）缺陷形成的間隙是抗萃取失效關鍵誘因。本文依托多功能面型干涉儀（White Light Interferometer,WLI）\\ 光學 3D 輪廓檢測技術，非接觸采集密封平面度、\\ 平行度（Parallelism）、臺階高度（Step Height）、錐角（Angle）\\ 等參數，量化平面形貌與密封防腐抗萃取（Anti-extraction）性能關聯，全部實測參數取自儀器原廠手冊、行業公開招標技術文件。

睿克光學專注光學 3D 測量方案落地，自研面型干涉儀具備四大技術優勢：①一鍵自動掃描，單幅標準掃描視野 25mm，實測噴油器密封端面平面度變形 0.35 μm、顱骨植入件平面度 8.32 μm，破解傳統設備視野、深度受限短板；②支持 70mm 多臺階一體化檢測，測量重復精度 5nm；③自動化批量檢測，單幅視野 23×18mm，整機最大可拓展 200mm 全域自動跑點，可按需定制非標方案；④同步實現深錐角、透明件上下端面平行度一站式檢測，無需配套輔機。

工程實測證實：密封平面度超標會造成端面貼合間隙不均，SCO?流體在縫隙形成紊流沖刷，持續萃取防腐涂層有機物，加速基體腐蝕失效；依托光學輪廓數據管控平面精度，可優化密封選材與防腐工藝，縮小滲流間隙，有效提升密封抗萃取、耐腐蝕能力。

參考文獻

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免責聲明（Disclaimer）

一、內容溯源與適用范圍（Source & Scope of Application）

本文全部技術參數、結構原理、機型適配及對比數據，均源自設備原廠官方資料、權威標準文獻及公開招標驗收文件，僅用于技術研究、方案對比及行業參考，不作任何商業用途。

二、內容效力與權責界定（Validity & Liability Definition）

本文觀點與結論為通用技術參考，非設備原廠官方定論，不構成任何商業承諾、履約標準及驗收依據，未經原廠實測核驗，不得用于項目驗收、舉證追責。

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