鏡頭鏡片曲率半徑偏差是光學成型工藝的核心質量缺陷，主要由鏡片注塑冷卻不均、模具曲面磨損、成型應力不均等因素引發，會直接導致鏡片面型失真、焦距偏移，降低鏡頭成像清晰度與裝配精度，是制約精密光學鏡片量產良率的關鍵問題。行業通用曲率半徑公差可達±0.1%，微小偏差即可影響光學系統整體性能。

傳統檢測方式多采用牛頓環法等，存在精度低、需破壞性取樣、無法全域檢測等弊端，難以適配高精度鏡片生產需求。白光干涉儀依托白光干涉成像與相位解算技術，可實現非接觸式納米級無損檢測，通過采集鏡片三維點云數據，擬合理想球面與非球面模型，精準測算實際曲率半徑與理論值的偏差數值，完整還原鏡片表面形貌誤差分布。

基于檢測數據可反向校正光學成型工藝，針對性優化模具溫控參數、修調模具曲面精度、改善成型冷卻流程，有效修正曲率半徑偏差。實測應用后，鏡片曲率半徑檢測精度可達納米級，成型工藝穩定性大幅提升，鏡片面型PV值波動顯著降低，有效解決量產中的精度偏差問題。

光學鏡片實測應用圖示及說明（工業及半導體專屬）

（圖示為光學鏡片關鍵指標：含平面度誤差（Flatness Error）、峰值谷值（Peak-Valley, PV）、均方根值（Root Mean Square, RMS），精準把控鏡片平面精度，保障鏡片光學性能穩定，適配半導體光學鏡片檢測需求）

（圖示為表面粗糙度（Surface Roughness, Ra）：精度達6pm=0.006nm，精準表征鏡片表面光滑度，適配高精度光學鏡片、半導體光學窗口片檢測需求，規避表面粗糙導致的光學損耗）

（圖示為實測涂層厚度（Coating Thickness）：75.2nm，精準測量光學鏡片涂層厚度，助力涂層工藝優化（Coating Process Optimization）與質量管控，保障鏡片抗反射、抗磨損等性能）

（圖示為涂層表面質量3D形貌圖（3D Morphology Map of Coating Surface Quality），清晰呈現涂層表面狀態，及時發現涂層劃痕、脫落、氣泡等缺陷（Defect），為工藝改進提供數據支撐）

大視野3D白光干涉儀

大視野3D白光干涉儀，聚焦光學鏡片（Optical Lens）精密測量，打造納米級（Nanoscale）測量全域解決方案，突破傳統測量局限，定義光學鏡片檢測新范式，以高效、精準的測量能力，適配光學鏡片全流程檢測需求，為工業光學、半導體光學器件（Semiconductor Optical Devices）等領域提供全方位技術支撐。

設備憑借核心創新技術，一機解鎖納米級全場景測量，重新詮釋精密測量（Precision Measurement）的高效與精準，助力光學鏡片生產、加工環節的質量管控（Quality Control），保障鏡片光學性能（Optical Performance）達標，適配半導體光學組件、精密光學儀器等高端場景需求。

核心優勢：大視野+高精度，突破行業局限

打破行業常規壁壘，解決傳統設備1倍以下物鏡（Objective Lens）僅能單孔使用、需兩臺儀器分別實現大視野與高精度測量（High-Precision Measurement）的痛點。設備搭載全新0.6倍輕量化鏡頭，配備15mm超大單幅視野（Single Frame Field of View），搭配可兼容4個物鏡的轉塔鼻輪（Turret Nose Wheel），一臺設備即可全面覆蓋大視野觀測與高精度測量需求，無需頻繁切換設備，大幅提升檢測效率（Inspection Efficiency）與數據精準度（Data Accuracy），完美適配光學鏡片復雜測量場景。

新啟航半導體｜專業白光干涉 3D 輪廓測量方案。亞納米精度保障，支持自動化定制；高端系列對標國際一線品牌，大視野設計，輕松應對高低反射、復雜材料測量場景。

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