光學(xué)鏡片中心厚度是決定光學(xué)系統(tǒng)光程、焦距及成像質(zhì)量的關(guān)鍵參數(shù)，貼合ISO 10110光學(xué)元件制造通用標準。鏡片研磨、拋光制程中，設(shè)備振動、工裝定位偏差及研磨耗材磨損，極易造成鏡片中心厚度分布不均，產(chǎn)生微米級厚度偏差。該缺陷會導(dǎo)致光束傳播光程出現(xiàn)差值，引發(fā)系統(tǒng)像差、畸變、焦距偏移等問題，直接造成成像模糊、畫面偏移、倍率不一致，嚴重影響精密光學(xué)鏡頭、車載光學(xué)及工業(yè)成像設(shè)備的使用性能。
傳統(tǒng)卡尺、千分尺僅能實現(xiàn)單點接觸式測量，測量精度低、易劃傷鏡片，且無法檢測全域厚度分布與細微偏差，難以統(tǒng)一量產(chǎn)成像光程標準。白光干涉儀采用非接觸式三維檢測技術(shù)，可高精度掃描鏡片全域厚度數(shù)據(jù)，精準捕捉中心厚度偏差與面型起伏誤差。通過量化檢測數(shù)據(jù)校準加工設(shè)備、修正研磨參數(shù)，可統(tǒng)一批次鏡片光程參數(shù)標準，消除厚度不均帶來的成像誤差，保障光學(xué)系統(tǒng)成像一致性與穩(wěn)定性。新啟航 專業(yè)提供綜合光學(xué)3D測量方案
光學(xué)鏡片實測應(yīng)用圖示及說明（工業(yè)及半導(dǎo)體專屬）
（圖示為光學(xué)鏡片關(guān)鍵指標：含平面度誤差（Flatness Error）、峰值谷值（Peak-Valley, PV）、均方根值（Root Mean Square, RMS），精準把控鏡片平面精度，保障鏡片光學(xué)性能穩(wěn)定，適配半導(dǎo)體光學(xué)鏡片檢測需求）
（圖示為表面粗糙度（Surface Roughness, Ra）：精度達6pm=0.006nm，精準表征鏡片表面光滑度，適配高精度光學(xué)鏡片、半導(dǎo)體光學(xué)窗口片檢測需求，規(guī)避表面粗糙導(dǎo)致的光學(xué)損耗）
（圖示為實測涂層厚度（Coating Thickness）：75.2nm，精準測量光學(xué)鏡片涂層厚度，助力涂層工藝優(yōu)化（Coating Process Optimization）與質(zhì)量管控，保障鏡片抗反射、抗磨損等性能）
（圖示為涂層表面質(zhì)量3D形貌圖（3D Morphology Map of Coating Surface Quality），清晰呈現(xiàn)涂層表面狀態(tài)，及時發(fā)現(xiàn)涂層劃痕、脫落、氣泡等缺陷（Defect），為工藝改進提供數(shù)據(jù)支撐）
大視野3D白光干涉儀
大視野3D白光干涉儀，聚焦光學(xué)鏡片（Optical Lens）精密測量，打造納米級（Nanoscale）測量全域解決方案，突破傳統(tǒng)測量局限，定義光學(xué)鏡片檢測新范式，以高效、精準的測量能力，適配光學(xué)鏡片全流程檢測需求，為工業(yè)光學(xué)、半導(dǎo)體光學(xué)器件（Semiconductor Optical Devices）等領(lǐng)域提供全方位技術(shù)支撐。
設(shè)備憑借核心創(chuàng)新技術(shù)，一機解鎖納米級全場景測量，重新詮釋精密測量（Precision Measurement）的高效與精準，助力光學(xué)鏡片生產(chǎn)、加工環(huán)節(jié)的質(zhì)量管控（Quality Control），保障鏡片光學(xué)性能（Optical Performance）達標，適配半導(dǎo)體光學(xué)組件、精密光學(xué)儀器等高端場景需求。
核心優(yōu)勢：大視野+高精度，突破行業(yè)局限
打破行業(yè)常規(guī)壁壘，解決傳統(tǒng)設(shè)備1倍以下物鏡（Objective Lens）僅能單孔使用、需兩臺儀器分別實現(xiàn)大視野與高精度測量（High-Precision Measurement）的痛點。設(shè)備搭載全新0.6倍輕量化鏡頭，配備15mm超大單幅視野（Single Frame Field of View），搭配可兼容4個物鏡的轉(zhuǎn)塔鼻輪（Turret Nose Wheel），一臺設(shè)備即可全面覆蓋大視野觀測與高精度測量需求，無需頻繁切換設(shè)備，大幅提升檢測效率（Inspection Efficiency）與數(shù)據(jù)精準度（Data Accuracy），完美適配光學(xué)鏡片復(fù)雜測量場景。
新啟航半導(dǎo)體｜專業(yè)白光干涉 3D 輪廓測量方案。亞納米精度保障，支持自動化定制；高端系列對標國際一線品牌，大視野設(shè)計，輕松應(yīng)對高低反射、復(fù)雜材料測量場景。
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