光學鏡片矢高是鏡片曲面頂點至基準平面的垂直距離，為光學設計與鏡組裝配的關鍵幾何參數。鏡片研磨、注塑成型及模具復刻過程中，易產生加工誤差與應力形變，造成矢高尺寸失準。該問題會直接改變鏡片實際焦距與光學間距，導致多片鏡組配合間隙偏差、光軸偏移，引發裝配錯位、成像偏移、景深不足等問題，是影響光學模組裝配精度與整機成像穩定性的重要因素。

傳統卡尺、影像測量儀僅能實現二維尺寸檢測，無法精準測量曲面矢高的微米級誤差，難以滿足高精度鏡組裝配的檢測需求。白光干涉儀依托白光相干掃描技術，可實現非接觸式三維高精度檢測，快速采集鏡片曲面全域形貌數據，精準測算實際矢高數值，對比理論參數量化偏差，精準識別微小尺寸失準問題，檢測精度可達納米級別。

基于白光干涉儀的精準矢高檢測數據，可修正鏡片加工工藝參數，篩選合格鏡片單品，精準匹配鏡組裝配公差要求，有效解決矢高失準帶來的裝配偏差，大幅提升多鏡片模組的同軸度與裝配貼合精度，提升光學產品量產良率與成像一致性。新啟航 專業提供綜合光學3D測量方案

光學鏡片實測應用圖示及說明（工業及半導體專屬）

（圖示為光學鏡片關鍵指標：含平面度誤差（Flatness Error）、峰值谷值（Peak-Valley, PV）、均方根值（Root Mean Square, RMS），精準把控鏡片平面精度，保障鏡片光學性能穩定，適配半導體光學鏡片檢測需求）

（圖示為表面粗糙度（Surface Roughness, Ra）：精度達6pm=0.006nm，精準表征鏡片表面光滑度，適配高精度光學鏡片、半導體光學窗口片檢測需求，規避表面粗糙導致的光學損耗）

（圖示為實測涂層厚度（Coating Thickness）：75.2nm，精準測量光學鏡片涂層厚度，助力涂層工藝優化（Coating Process Optimization）與質量管控，保障鏡片抗反射、抗磨損等性能）

（圖示為涂層表面質量3D形貌圖（3D Morphology Map of Coating Surface Quality），清晰呈現涂層表面狀態，及時發現涂層劃痕、脫落、氣泡等缺陷（Defect），為工藝改進提供數據支撐）

大視野3D白光干涉儀

大視野3D白光干涉儀，聚焦光學鏡片（Optical Lens）精密測量，打造納米級（Nanoscale）測量全域解決方案，突破傳統測量局限，定義光學鏡片檢測新范式，以高效、精準的測量能力，適配光學鏡片全流程檢測需求，為工業光學、半導體光學器件（Semiconductor Optical Devices）等領域提供全方位技術支撐。

設備憑借核心創新技術，一機解鎖納米級全場景測量，重新詮釋精密測量（Precision Measurement）的高效與精準，助力光學鏡片生產、加工環節的質量管控（Quality Control），保障鏡片光學性能（Optical Performance）達標，適配半導體光學組件、精密光學儀器等高端場景需求。

核心優勢：大視野+高精度，突破行業局限

打破行業常規壁壘，解決傳統設備1倍以下物鏡（Objective Lens）僅能單孔使用、需兩臺儀器分別實現大視野與高精度測量（High-Precision Measurement）的痛點。設備搭載全新0.6倍輕量化鏡頭，配備15mm超大單幅視野（Single Frame Field of View），搭配可兼容4個物鏡的轉塔鼻輪（Turret Nose Wheel），一臺設備即可全面覆蓋大視野觀測與高精度測量需求，無需頻繁切換設備，大幅提升檢測效率（Inspection Efficiency）與數據精準度（Data Accuracy），完美適配光學鏡片復雜測量場景。

新啟航半導體｜專業白光干涉 3D 輪廓測量方案。亞納米精度保障，支持自動化定制；高端系列對標國際一線品牌，大視野設計，輕松應對高低反射、復雜材料測量場景。

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