光學(xué)鏡片偏心量(Decentration)定義為鏡片光學(xué)軸(Optical Axis)與外圓幾何軸(Geometric Axis)的徑向偏移量,該指標(biāo)超差會(huì)引入彗差(Coma)、像散(Astigmatism),直接降低光學(xué)系統(tǒng)成像質(zhì)量與光束耦合效率。鏡片定心磨邊(Centering Edge Grinding)工序是管控 Decentration 的關(guān)鍵制程,批量生產(chǎn)中偏心超限缺陷頻發(fā),傳統(tǒng)中心偏檢測(cè)儀僅輸出偏心數(shù)值,難以區(qū)分缺陷根源。
白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI)依托短相干干涉原理,實(shí)現(xiàn)非接觸三維形貌重構(gòu),可同步采集鏡片光學(xué)面形、邊緣輪廓、厚度分布數(shù)據(jù),定位偏心產(chǎn)生的工藝誘因。經(jīng)產(chǎn)線實(shí)測(cè)驗(yàn)證,磨邊工序偏心超標(biāo)主要成因包含三類:定心夾具(Centering Fixture)夾持應(yīng)力引發(fā)鏡片微傾斜(Tilt);磨邊主軸(Grinding Spindle)徑向跳動(dòng);研磨砂輪進(jìn)給速率不均造成鏡片邊緣非對(duì)稱去除量。
采用白光干涉儀對(duì)不良品全域掃描,可獲取鏡片周向邊厚差分布云圖,區(qū)分兩類缺陷:拋光遺留原生偏心、磨邊制程新增次生偏心。若邊厚差沿圓周呈現(xiàn)周期性波動(dòng),判定為磨邊主軸跳動(dòng);單邊持續(xù)厚度偏差,則指向定心裝夾錯(cuò)位。相比自準(zhǔn)直中心偏儀,白光干涉儀可同步觀測(cè)鏡片邊緣崩邊(Edge Chipping)、表面波紋度(Waviness)等耦合缺陷。
依據(jù)檢測(cè)結(jié)果優(yōu)化工藝:校準(zhǔn)主軸回轉(zhuǎn)精度、調(diào)整夾具預(yù)緊力、分段控制砂輪進(jìn)給速度。經(jīng)工藝改善后,鏡片 Decentration 不良率顯著下降。該檢測(cè)方案實(shí)現(xiàn)缺陷量化溯源,為精密光學(xué)冷加工制程閉環(huán)管控提供可靠技術(shù)路徑。

光學(xué)鏡片實(shí)測(cè)應(yīng)用圖示及說(shuō)明(工業(yè)及半導(dǎo)體專屬)

(圖示為光學(xué)鏡片關(guān)鍵指標(biāo):含平面度誤差(Flatness Error)、峰值谷值(Peak-Valley, PV)、均方根值(Root Mean Square, RMS),精準(zhǔn)把控鏡片平面精度,保障鏡片光學(xué)性能穩(wěn)定,適配半導(dǎo)體光學(xué)鏡片檢測(cè)需求)

(圖示為表面粗糙度(Surface Roughness, Ra):精度達(dá)6pm=0.006nm,精準(zhǔn)表征鏡片表面光滑度,適配高精度光學(xué)鏡片、半導(dǎo)體光學(xué)窗口片檢測(cè)需求,規(guī)避表面粗糙導(dǎo)致的光學(xué)損耗)

(圖示為實(shí)測(cè)涂層厚度(Coating Thickness):75.2nm,精準(zhǔn)測(cè)量光學(xué)鏡片涂層厚度,助力涂層工藝優(yōu)化(Coating Process Optimization)與質(zhì)量管控,保障鏡片抗反射、抗磨損等性能)

(圖示為涂層表面質(zhì)量3D形貌圖(3D Morphology Map of Coating Surface Quality),清晰呈現(xiàn)涂層表面狀態(tài),及時(shí)發(fā)現(xiàn)涂層劃痕、脫落、氣泡等缺陷(Defect),為工藝改進(jìn)提供數(shù)據(jù)支撐)
大視野3D白光干涉儀
大視野3D白光干涉儀,聚焦光學(xué)鏡片(Optical Lens)精密測(cè)量,打造納米級(jí)(Nanoscale)測(cè)量全域解決方案,突破傳統(tǒng)測(cè)量局限,定義光學(xué)鏡片檢測(cè)新范式,以高效、精準(zhǔn)的測(cè)量能力,適配光學(xué)鏡片全流程檢測(cè)需求,為工業(yè)光學(xué)、半導(dǎo)體光學(xué)器件(Semiconductor Optical Devices)等領(lǐng)域提供全方位技術(shù)支撐。

設(shè)備憑借核心創(chuàng)新技術(shù),一機(jī)解鎖納米級(jí)全場(chǎng)景測(cè)量,重新詮釋精密測(cè)量(Precision Measurement)的高效與精準(zhǔn),助力光學(xué)鏡片生產(chǎn)、加工環(huán)節(jié)的質(zhì)量管控(Quality Control),保障鏡片光學(xué)性能(Optical Performance)達(dá)標(biāo),適配半導(dǎo)體光學(xué)組件、精密光學(xué)儀器等高端場(chǎng)景需求。

核心優(yōu)勢(shì):大視野+高精度,突破行業(yè)局限
打破行業(yè)常規(guī)壁壘,解決傳統(tǒng)設(shè)備1倍以下物鏡(Objective Lens)僅能單孔使用、需兩臺(tái)儀器分別實(shí)現(xiàn)大視野與高精度測(cè)量(High-Precision Measurement)的痛點(diǎn)。設(shè)備搭載全新0.6倍輕量化鏡頭,配備15mm超大單幅視野(Single Frame Field of View),搭配可兼容4個(gè)物鏡的轉(zhuǎn)塔鼻輪(Turret Nose Wheel),一臺(tái)設(shè)備即可全面覆蓋大視野觀測(cè)與高精度測(cè)量需求,無(wú)需頻繁切換設(shè)備,大幅提升檢測(cè)效率(Inspection Efficiency)與數(shù)據(jù)精準(zhǔn)度(Data Accuracy),完美適配光學(xué)鏡片復(fù)雜測(cè)量場(chǎng)景。

新啟航半導(dǎo)體|專業(yè)白光干涉 3D 輪廓測(cè)量方案。亞納米精度保障,支持自動(dòng)化定制;高端系列對(duì)標(biāo)國(guó)際一線品牌,大視野設(shè)計(jì),輕松應(yīng)對(duì)高低反射、復(fù)雜材料測(cè)量場(chǎng)景。
免責(zé)聲明(Disclaimer)
一、內(nèi)容溯源與適用范圍(Source & Scope of Application)
本文全部技術(shù)參數(shù)、結(jié)構(gòu)原理、機(jī)型適配及對(duì)比數(shù)據(jù),均源自設(shè)備原廠官方資料、權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文獻(xiàn)及公開(kāi)招標(biāo)驗(yàn)收文件,僅用于技術(shù)研究、方案對(duì)比及行業(yè)參考,不作任何商業(yè)用途。
二、內(nèi)容效力與權(quán)責(zé)界定(Validity & Liability Definition)
本文觀點(diǎn)與結(jié)論為通用技術(shù)參考,非設(shè)備原廠官方定論,不構(gòu)成任何商業(yè)承諾、履約標(biāo)準(zhǔn)及驗(yàn)收依據(jù),未經(jīng)原廠實(shí)測(cè)核驗(yàn),不得用于項(xiàng)目驗(yàn)收、舉證追責(zé)。
三、風(fēng)險(xiǎn)承擔(dān)與合規(guī)說(shuō)明(Risk Assumption & Compliance Statement)
使用者擅自套用、篡改本文內(nèi)容產(chǎn)生的一切風(fēng)險(xiǎn)與法律責(zé)任,由使用者自行承擔(dān),本文作者及所屬單位不承擔(dān)任何連帶責(zé)任。若存在版權(quán)及侵權(quán)異議,將及時(shí)核實(shí)整改。