
同軸落射垂直掃描設計,有效規(guī)避樣品遮擋干擾,單幅掃描可達 90mm,大視野無縫拼接更高效 | 
最大130mm深孔探測,孔徑比掃描30 1,重復精度±2μm,無需Z軸拼接,單次掃描直接成像。 | 
同軸落射光學角度性能優(yōu)于傳統(tǒng)三角成像,可清晰成像,精準完成銑刀刃口鈍化 R 值與刀面角度測量。 |

傳統(tǒng)反射光路無法測量內孔垂直壁面,加裝旋轉反射掃描機構,即可完成內孔 3D 輪廓掃描。 | 
弧面 R 值測量核心難點為曲線自動擬合測算半徑R,規(guī)避人工鼠標抓取產生的測量誤差。 | 
功能齊全,可一站式測量各類形位公差,涵蓋尺寸、孔槽、角度、平面度等,界面簡潔易用,測量高效便捷。 |