登錄 | 注冊
400-8235-668
EN
CH
Measurement Plan
讓白光干涉儀操作更簡單,更智能
· 14mm 大視野,多物鏡組合,兼顧廣視觀測與精密測量
· 一鍵自動調平對焦,長距測量,適配深孔高落差檢測
· 干涉解析 + 真彩成像,細節清晰,測量直觀全面
· 一鍵全域粗糙度檢測,量程廣,適配各類工件
查看更多
收起
14mm 超大單幅視野,0.6 倍輕量化鏡頭 + 4 物鏡轉塔,一機覆蓋大視場觀測與高精度測量全需求。
搭載一鍵自動傾斜調平,硬件追蹤 + 算法對焦雙閉環,操作極簡;搭配 100mm 連續測量,輕松實現深凹坑、深孔等高落差結構的測量。
全域粗糙度一鍵測量,量程跨度廣,可精準檢測從超光滑鏡面到增材高粗糙工件的全范圍表面粗糙度。
保留黑白干涉解析能力,搭載 RGB 真彩色成像;還原樣品形貌與色彩細節,測量更全面、分析更直觀。
一鍵自動生成檢測報告,兼容 MES 系統,測量數據可無縫上傳對接。
全新激光光學頻率梳技術
完美兼具實驗室和產線自動化3D測量需求
· 納米精度,200×200mm 大視野全域掃描
· 可測 70mm大臺階工件雙面平行度
· 加裝光譜模塊,同步檢測面型與粗糙度
· 自動測量智能判定,適配批量全檢
· 獨創光路,雙面同掃精準測厚與平行度
納米精度|200×200mm 視野,掃描成像
傳統干涉儀受光學局限,無法對70mm臺階工件雙面同步掃描,難以測量平面平行度。
傳統截面測量易因樣品差異造成取樣偏移,數據偏差大;面臺階測量可有效杜絕此類誤差。
傳統大視野面測受光學限制,XY 精度難以兼顧,加裝光譜模塊即可完美兼顧粗糙度測量。
納米精密檢測設備搭載自動點位測量與智能OK NG判定功能,大幅提速,適配批量全檢作業。
專屬獨特光路架構,非透明樣品支持上下表面同時掃描,可精準檢測厚度均勻性與面平行度
優于1nm重復精度下,更高速的晶圓掃描成像,SEMI標準下,滿足各種TTV BOW WARP TIP等測量。
· 適配多種材質工件,無需表面處理,檢測高效便捷。
· 具備亞微米高精度,大視野測量無需拼接,支持多探頭選配。
· 搭載分層掃描技術,可穿透表層精準檢測內部結構形態
高反光、漫反射工件免噴粉,無需表面處理直接掃描;散熱翅片角度測量專用,1-秒快速掃描、即刻出結果。
透明玻璃檢測視野限制,無需拼接,三角掃描-3-秒完成-4mm-視野亞微米級測量,可按需選配探頭
柔軟透明FPC軟板臺階測高,擺脫探針與拼接低效問題,3 秒極速掃描達亞微米精度,標配 4mm 視野,多探頭可選.
適配漫反射--吸光光伏片柵線檢測,2-秒實現高寬比測試,大視野高效排查細微工藝缺陷。
實測三豐-516-498系列標準階差規,2μm-標準臺階清晰分辨
搭載獨特分層算法,可穿透頂層蓋板玻璃,精準掃描并分離出底層-COB-感光芯片的貼合狀態,清晰還原芯片翹曲形貌。
登錄
隱私聲明
資料下載
如何稱呼您
聯系方式
地址:廣東省佛山市高明區荷城街道海田路88號23棟
服務熱線:400-8235-668
E-mail:sales@syncon-semi.com
企業公眾號
2025新啟航半導體有限公司版權所有
粵ICP備2023006151號-3