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Measurement Plan
全新激光光學頻率梳技術
完美兼具實驗室和產線自動化3D測量需求
· 納米精度,200×200mm 大視野全域掃描
· 可測 70mm大臺階工件雙面平行度
· 加裝光譜模塊,同步檢測面型與粗糙度
· 自動測量智能判定,適配批量全檢
· 獨創光路,雙面同掃精準測厚與平行度
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納米精度|200×200mm 視野,掃描成像
傳統干涉儀受光學局限,無法對70mm臺階工件雙面同步掃描,難以測量平面平行度。
傳統截面測量易因樣品差異造成取樣偏移,數據偏差大;面臺階測量可有效杜絕此類誤差。
傳統大視野面測受光學限制,XY 精度難以兼顧,加裝光譜模塊即可完美兼顧粗糙度測量。
納米精密檢測設備搭載自動點位測量與智能OK NG判定功能,大幅提速,適配批量全檢作業。
專屬獨特光路架構,非透明樣品支持上下表面同時掃描,可精準檢測厚度均勻性與面平行度
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