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            新啟航半導體有限公司


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            09
            2026
            -
            06
            BGA 錫球共面度標準化檢測方案,詳解光學 3D 輪廓儀工業...
            光學3D輪廓儀依托非接觸式三維掃描原理,適配IPC-7351、JEDEC行業標準,可高速采集BGA錫球全域3D形貌點云數據,自動擬合基準平面,精準計算單球高度差、...
            BGA 錫球共面度標準化檢測方案,詳解光學 3D 輪廓儀工業場景實際應用
            08
            2026
            -
            06
            白光干涉儀(White Light Interferomet...
            超薄薄膜(Ultra-thin Film)是光電傳感、精密光學鍍膜、半導體微電子領域的核心功能材料。薄膜制備常用的磁控濺射(Magnetron Sputterin...
            白光干涉儀(White Light Interferometer, WLI)高精度表征下超薄薄膜(Ultra-thin Film)表面瑕疵與工藝誤差關聯性研究
            08
            2026
            -
            06
            超臨界 CO?設備密封平面度工藝質控及光學輪廓測量技術應用
            超臨界二氧化碳(Supercritical CO?, scCO?)設備長期服役于高溫高壓嚴苛工況,密封端面平面度(Sealing Flatness)是保障設備氣密...
            超臨界 CO?設備密封平面度工藝質控及光學輪廓測量技術應用
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            2026
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            光學 3D 輪廓儀精準測量 BGA 錫球共面度(Coplan...
            在芯片SMT(Surface Mount Technology,表面貼裝技術)量產制程中,BGA(Ball Grid Array,球柵陣列)錫球共面度(Copla...
            光學 3D 輪廓儀精準測量 BGA 錫球共面度(Coplanarity),全面提升芯片 SMT 焊接良率(Welding Yield)
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