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MEMS 圖形對位 (Pattern Alignment)出...

摘要微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）器件光刻、薄膜沉積制程易產(chǎn)生圖形對位（Pattern Alignment）偏差，該工藝缺陷會逐級傳導(dǎo)至晶圓鍵合（Wafer Bondin...

MEMS 圖形對位 (Pattern Alignment)出現(xiàn)偏差，白光干涉儀規(guī)避芯片封裝 (Chip Packaging) 組裝工藝風(fēng)險

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光學(xué) 3D 輪廓儀在 FPC 柔性電路板封裝平面度（Flat...

柔性印制電路板（Flexible Printed Circuit, FPC）憑借超薄、可柔性彎折、輕量化優(yōu)勢，廣泛應(yīng)用于消費電子、車載精密封裝領(lǐng)域。FPC封裝平面...

光學(xué) 3D 輪廓儀在 FPC 柔性電路板封裝平面度（Flatness）檢測領(lǐng)域?qū)嶋H落地應(yīng)用（Practical Application）

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ISO標(biāo)準(zhǔn)下粗糙度測量：共聚焦偏差與大視野白光干涉儀（WLI...

半導(dǎo)體、超精密制造領(lǐng)域中，表面粗糙度測量精度直接決定產(chǎn)品質(zhì)量與服役性能。激光共聚焦顯微鏡（LCM）存在工業(yè)樣品檢測偏差、重復(fù)性不佳的共性問題，且標(biāo)準(zhǔn)塊檢測數(shù)據(jù)正常...

ISO標(biāo)準(zhǔn)下粗糙度測量：共聚焦偏差與大視野白光干涉儀（WLI）應(yīng)用

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光學(xué)輪廓測量在高溫高壓硬密封球閥平面度檢測中的應(yīng)用

摘要：針對油氣、煤化工領(lǐng)域高溫高壓硬密封球閥（High-temperature and High-pressure Hard-seal Ball Valve）密封...

光學(xué)輪廓測量在高溫高壓硬密封球閥平面度檢測中的應(yīng)用