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        2026
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        實現工業微米級精密檢測(Micron-level Preci...
        多層陶瓷電容器(Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC)端電極銀漿(Silver Paste)涂布厚度是決定器件焊接強度、電氣穩定...
        實現工業微米級精密檢測(Micron-level Precision Detection),采用光學 3D 輪廓儀測量 MLCC 銀漿厚度
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        2026
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        精密制造LCM拼接測量誤差根源及標準化檢測方案(LCM Sp...
        半導體與精密制造領域中,工件直線度、微觀形貌的精準檢測是質量管控核心環節。激光共聚焦顯微鏡(LCM)拼接測量普遍存在波紋抖動、形貌錯位、數據失真等問題,檢測結果無...
        精密制造LCM拼接測量誤差根源及標準化檢測方案(LCM Splicing Measurement Error Root Cause & Standardized Detection Scheme for Precision Manufacturing)
        30
        2026
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        06
        LNG深冷硬密封蝶閥平面度對密封性能的光學輪廓測量分析
        LNG(液化天然氣,Liquefied Natural Gas)深冷硬密封蝶閥是低溫儲運系統關鍵控流設備,密封面平面度(flatness)為影響閥門低溫密封可靠性...
        LNG深冷硬密封蝶閥平面度對密封性能的光學輪廓測量分析
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        2026
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        激光顯微鏡干涉測量 去馬賽克插值(Demosaicing I...
        一、白光干涉測量優選黑白CMOS的核心技術邏輯工業級白光干涉儀普遍標配黑白CMOS。彩色CMOS的硬件結構與去馬賽克插值算法會產生固有測量誤差,破壞干涉條紋精度,...
        激光顯微鏡干涉測量 去馬賽克插值(Demosaicing Interpolation)誤差機理研究
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