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光學(xué)輪廓測(cè)量在火電高溫主蒸汽閥平面度檢測(cè)中的應(yīng)用

高溫主蒸汽閥（High-temperature Main Steam Valve）是火電機(jī)組熱力系統(tǒng)核心承壓密封部件，其閥座密封面平面度（Flatness）直接決...

光學(xué)輪廓測(cè)量在火電高溫主蒸汽閥平面度檢測(cè)中的應(yīng)用

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MLCC 銀漿厚度標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)方法（Detection Met...

多層陶瓷電容器（Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC）端電極銀漿厚度，是管控器件焊接可靠性與電學(xué)穩(wěn)定性的關(guān)鍵工藝指標(biāo)，厚度均勻性...

MLCC 銀漿厚度標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)方法（Detection Method），詳解光學(xué) 3D 輪廓儀工業(yè)落地應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

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微透鏡厚度均勻性 (Thickness Uniformi...

微透鏡（Microlens）及微透鏡陣列是光電成像、半導(dǎo)體光學(xué)器件的核心微結(jié)構(gòu)，其厚度均勻性（Thickness Uniformity）直接決定光束耦合精度、成像...

微透鏡厚度均勻性 (Thickness Uniformity)失衡，白光干涉儀檢測(cè)優(yōu)化光學(xué)制程 (Optical Process) 制備工藝

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激光顯微鏡彩色CMOS拜耳陣列（Bayer Array）對(duì)干...

一、白光干涉測(cè)量?jī)?yōu)選黑白CMOS的核心技術(shù)邏輯工業(yè)級(jí)白光干涉儀普遍標(biāo)配黑白CMOS。彩色CMOS的硬件結(jié)構(gòu)與成像算法會(huì)破壞干涉測(cè)量精度，而黑白CMOS可滿足納米級(jí)...

激光顯微鏡彩色CMOS拜耳陣列（Bayer Array）對(duì)干涉條紋測(cè)量精度影響分析